恒電位儀是納米材料的一種重要表征參數。現代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過電化學原理將測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態光散射，運用波的多普勒效應測得。恒電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的電位，從電位關系圖上求出等電點，是認識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯...

粒度儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和強的方向性，所以一束平行的激光在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠的地方，并且在傳播過程中很少有發散的現象。當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發生散射現象。散射光的傳播方向將與主光榮的傳播方向形成一個夾角θ。散射理論和結果證明，散射角θ的大小與顆粒的大小有關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小；顆粒越小，產生的散射光的θ角就越大。粉體的粒度分布可以影響到產品的質量和性能，因此，在粉體行業，有...

在膠體體系中，顆粒間的運動和力通常受相鄰顆粒的電荷影響。當我們測量zeta電位時，顆粒的有效電荷的測定才是真正要探討的問題。換言之：zeta電位是衡量一個顆粒/分子的電荷是如何影響另一個顆粒/分子的運動的。全電位描述了（探針）顆粒受電荷影響的程度，作為距離的函數，它當然會隨著距離的變化而變化：當一個帶正電的探針顆粒靠近另一個帶正電的顆粒時，它會非常“注意”另一個帶正電的顆粒的電荷——然而，當它離另一個粒子較遠時，它不會太“注意”它。物理學將其描述為靜電勢隨1/r（或探針與顆粒...

化學吸附是吸附質分子與固體表面原子(或分子)發生電子的轉移、交換或共有，形成吸附化學鍵的吸附。由于固體表面存在不均勻力場，表面上的原子往往還有剩余的成鍵能力，當氣體分子碰撞到固體表面上時便與表面原子間發生電子的交換、轉移或共有，形成吸附化學鍵的吸附作用。物理吸附也稱范德華吸附，它是由吸附質和吸附劑分子間作用力所引起，此力也稱作范德華力。由于范德華力存在于任何兩分子間，所以物理吸附可以發生在任何固體表面上。物理吸附和化學吸附都是吸附，兩者并不是孤立的，往往相伴發生。在污水處理技...

國產納米粒度儀是一種常用的粒度儀產品，采用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、性能穩定、重復性高、準確性好等優點。國產納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數字相關器的納米激光粒度儀，其采用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的主要選擇產品。我們都知道，設備的存放很重要，不然的話會影響到正常的使用。由于傳統的粒度丈量辦法操作繁瑣，耗時較長，曾經...

恒電位儀中的整流器電壓表的作用是對管道的給定電位進行調整。實際測量的管地電位跟參比電位進行對比可以發現有一個電位差，這個電位差可以通過磁飽和的電抗器對整流器的變壓器輸出經行電抗壓器輸出。管地電位跟參比電位相比會發現有一個電壓差，這個電壓差可以控制整流器變壓器的輸出，是通過磁飽和電壓器來進行控制的。如果管地電位發生參比電極向正向偏移，就會發生保護電流的增加，如果出現想負向偏移就會出現陰極保護電流的減少。幾個并聯進行的裝置發生相應的時候，時間是可以調節的，可以防止發生感應的震蕩。...

粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。粒度儀的注意事項(1)分離顆粒的能力與粒度測試技術選擇依據對顆粒的分離能力。將測量顆粒的技術分為單顆粒計數、顆粒分級和整體平均結果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產生信號的總和計算粒度分析，即測量結果由解析得到，...

物理吸附儀用于煤層氣、頁巖氣在不同壓力條件下等溫吸附量、解吸量測試。高溫高壓吸附測試儀，包括氣體增壓裝置、吸附裝置、溫度控制裝置、升降裝置和數據采集系統；氣動開關閥連接在氦氣瓶，氣動開關閥出口端連接安全閥、梭閥和增壓泵，增壓泵的出口并聯有2~8個氣動切換閥；每個氣動切換閥連接一個參考罐和一個樣品吸附罐：在參考罐和樣品吸附罐的另一端分別連接有壓力變送器。在恒溫油槽的底部固定有制冷系統的蒸發器；在恒溫油槽內固定有帶孔隔板、電加熱元件和溫度控制儀。效果結構合理、緊湊，便于移動，使用...