楊正紅總經(jīng)理當選全國納米技術標準化納米檢測分委會委員

全國納米技術標準化技術委員會納米檢測技術分技術委員會（SAC/TC279/SC2，以下簡稱納米檢測分委會）成立大會暨第一屆全體委員大會于2022年09月29日在中國計量科學研究院召開，中國科學院院士、國家納米科學中心主任、全國納米技術標委會主任委員趙宇亮等領導同志出席會議并講話。楊正紅總經(jīng)理出席了大會并當選第一屆納米檢測分委會委員。

納米檢測分委會是國家標委會批準成立的在全國納標委下從事納米檢測領域全國性標準化工作的技術組織，負責納米檢測運行專業(yè)標準化的技術歸口工作。

楊正紅總經(jīng)理自離開大學教學和科研崗位后，從1997年起負責顆粒特性分析儀器的技術支持及銷售，自2000年以來，有20余篇顆粒特性分析的論文發(fā)表，其著作《物理吸附100問》已經(jīng)脫銷。他先后被聘為瑞士華嘉公司分析儀器部產品專家、銷售經(jīng)理，英國馬爾文儀器公司北方區(qū)經(jīng)理， 并同時擔任美國康塔儀器公司的中國區(qū)經(jīng)理，北京代表處代表。2016年7月，楊正紅創(chuàng)建儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司，致力于國外顆粒特性儀器分析技術的引入推廣和國產化先進儀器裝備的自主研發(fā)和產業(yè)化進程。現(xiàn)為北京粉體技術協(xié)會專家委員，中國顆粒學會第七屆理事會高級理事，中國化工學會化肥專業(yè)委員會第十屆委員會專家委員，全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標準化技術委員會顆粒分技術委員會委員及ISO/TC24/SC4的注冊專家委員。